サイエンス

AFM (Atomic Force Microscope) 原子間力顕微鏡

　７月２０日に神戸で開かれた国際原子間力顕微鏡会議に出席した．この会議をスタートさせた森田清三教授からこの顕微鏡の原理と，研究の現状を伺った．大学では研究室においてこの顕微鏡を道具として使っていたのだが，この顕微法の研究分野は日本が世界をリードしているのだという．

　この顕微鏡の原理は，半導体などの表面に出ている原子からの力（クーロン力，共有結合力，スピン作用，欠陥など）の違いを微小な感知レバーの変化を光干渉などで読みとるのだという．原子そのものも見えるようになって，ＳＴＭ（走査型トンネル顕微鏡）とならぶ有力なツールになりつつあるようだ．非接触なので，半導体に影響を与えない．一方，原子移動などの作用もあるそうだ．